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XRD原位冷熱臺(tái)是一款專(zhuān)為X射線衍射儀設(shè)計(jì)的高精度變溫附件，適用于粉末或片狀樣品在變溫條件下的結(jié)構(gòu)分析，可依據(jù)用戶(hù)現(xiàn)有設(shè)備型號(hào)（如布魯克、賽默飛、理學(xué)等主流X射線衍射儀）定制適配樣品架。其作為一款專(zhuān)為X射線衍射分析開(kāi)發(fā)的原位裝置，能夠精確調(diào)控溫度、力學(xué)等多物理場(chǎng)耦合條件，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)材料在復(fù)雜環(huán)境下的結(jié)構(gòu)演變，具備優(yōu)異的適配性與擴(kuò)展性，滿(mǎn)足多樣化科研需求。
聯(lián)系人：趙先生
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