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SEM原位冷熱臺(tái)是一款專為掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的高性能變溫測試附件，無需對(duì)電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行任何改造，即可實(shí)現(xiàn)樣品的原位變溫實(shí)驗(yàn)。該裝置通過定制外接法蘭與電鏡腔體連接，配合專項(xiàng)溫控軟件，可對(duì)樣品進(jìn)行精確加熱與制冷，適用于多種材料在變溫過程中的微觀結(jié)構(gòu)研究。其法蘭接口可根據(jù)現(xiàn)有主流掃描電鏡型號(hào)（如蔡司、國儀量子、惠然等）進(jìn)行定制，確保與不同品牌設(shè)備的高度適配。
聯(lián)系人：趙先生
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